★覆層厚度的測量辦法首要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些辦法中前五種是有損檢查,測量手法繁瑣,速度慢,多適用于抽樣查驗。

    ★X射線和β射線法是無觸摸無損測量,但設備雜亂貴重,測量規模較小。因有放射源,使用者有必要恪守射線防護標準。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適宜鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時選用。

    ★隨著技能的日益前進,特別是這些年引進微機技能后,選用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可到達1%,有了大幅度的進步。

    ★它適用規模廣,量程寬、操作簡潔且價廉,是工業和科研使用廣泛的涂層測厚儀器;選用無損辦法既不損壞覆層也不損壞基材,檢查速度快,能使很多的檢查作業經濟地進行。

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